BANC DE MESURE DES PROPRIETES THERMOPHYSIQUES D’UN ECHANTILLON DE MATERIAU
Abstract
Type de la demande : A1 N° et date de dépôt : FR2005688-29/05/2020 N° et date de priorité : FR2005688-29/05/2020 Classification CIB : G01N 21/17 Classification CPC : G01N 25/18 ; G01N 33/38 ; G01N2201/065 ; G01N 21/55 ; G01N 21/59 Famille de brevets : FR3110969A1 Abrégé : L'invention porte sur un banc de mesure (100) des propriétés thermophysiques d'un échantillon de matériau logé dans un porte-échantillon (4), le banc de mesure (100) comprenant un support (5) sur lequel sont agencés un premier (1) et un deuxième (2) poste. Le premier poste (1) comprend : une première (11a) et une deuxième sphère intégrante (11b), la deuxième sphère (11b) étant séparée de la première sphère (11a) de sorte à pouvoir placer le porte échantillon (4) entre les deux sphères (11a,11b); une source d'un flux thermique (10); une pluralité de détecteurs thermiques disposés sur la surface interne de la première (11a) et de la deuxième sphère intégrante (11b). Le deuxième poste de mesure (2) comprend : une paroi chaude (20a) et une paroi froide (20b), chacune munie d'un capteur de température, définissant deux parois opposées d'un logement configuré pour recevoir le porte échantillon (4). Figure à publier avec l'abrégé : Fig. 1