Fully Microstrip Three-Port Circuit Bandpass NGD Design and Test - Université de La Réunion Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue IEEE Design & Test Année : 2023

Fully Microstrip Three-Port Circuit Bandpass NGD Design and Test

Blaise Ravelo
Nanjing University of Information Science and Technology
Alexandre Douyère
Energy Lab
CV
Yang Liu
  • Fonction : Auteur
Wenceslas Rahajandraibe
Fayu Wan
George Chan
Mathieu Guerin
  • Fonction : Auteur

Domaines

Sciences de l'ingénieur [physics]

Alexandre DOUYERE  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://hal.univ-reunion.fr/hal-04110890

Soumis le : mercredi 31 mai 2023-07:06:46

Dernière modification le : vendredi 9 février 2024-12:42:04

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-04110890 , version 1 (31-05-2023)

Identifiants

Citer

Blaise Ravelo, Alexandre Douyère, Yang Liu, Wenceslas Rahajandraibe, Fayu Wan, et al.. Fully Microstrip Three-Port Circuit Bandpass NGD Design and Test. IEEE Design & Test, 2023, 40 (1), pp.96-104. ⟨10.1109/MDAT.2022.3164337⟩. ⟨hal-04110890⟩

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